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    山田光學 YP-150I 異物檢查燈技術原理

    發(fā)布時間: 2025-07-10  點擊次數(shù): 100次
    YP-150I 是日本山田光學工業(yè)推出的一款高亮度鹵素光源裝置,主要用于半導體晶圓、液晶基板等材料表面缺陷的宏觀觀察與檢測。
    該設備采用高色溫鹵素燈作為光源,配合冷鏡反射系統(tǒng),可提供超過 400,000 lux 的高照度照明,照射范圍為 φ30mm。其核心優(yōu)勢在于:
    • 高亮度與均勻性:鹵素燈色溫高達 3400K,光線穩(wěn)定銳利,照度分布均勻,有助于識別微小異物、劃痕、拋光不均等缺陷。
    • 低熱影響:采用冷鏡技術,將熱輻射降低至傳統(tǒng)鋁鏡的 1/3,減少對被測樣品的熱損傷。
    • 雙照度模式:具備高照度與低照度兩種觀察模式,用戶可根據(jù)檢測需求一鍵切換,提升操作靈活性。
    YP-150I 適用于半導體加工、玻璃表面檢測等精密制造領域,是一種可靠、實用的目視檢查輔助工具。


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